전기·전자기기, 시스템 또는 자연계에서 발생하는 외부 전자파가 전도·유도·복사파의 결합(coupling)으로 다른 전기·전자기기 또는 시스템에 성능 저하, 오동작 또는 고장 등의 영향을 주는 현상.

전기·전자기기 또는 시스템에서 방출되는 원하지 않는 전자파는 설계 성능이 아닌 역기능(逆機能)으로 다른 기기의 순기능(順機能)에 저해 요소가 되므로 전자파 장해(EMI) 시험 항목으로 이를 저감하기 위한 연구개발이 필요하다.  

자동차, 모터, 발전기, 컴퓨터, 통신장치, 집적회로 등과 같은 전기·전자 기기 또는 시스템에서 전류가 급격히 변화할 때 발생하는 광대역 잡음과 연속성 잡음(broadband noise and continuous noise) 뿐만 아니라 대기 중의 전기 폭풍(thunder storm), 남극과 북극의 극광(auroras), 태양 흑점 폭발(solar flares), 은하 잡음(cosmic noise)처럼 자연에서 발생하는 전자파 방출(electromagnetic emission)이 전자파 장해(EMI)의 외부 요인(external source)이다. 이와 같은 외부 요인에 복사·전도·유도·용량성 결합(coupling)이 생기면 휴대 전화, 의료 장치, 전파 식별(RFID: Radio Frequency IDentification) 장치, TV, 라디오뿐만 아니라 전파 천문학(radio astronomy), 대기 과학(atmospheric science) 연구에 오작동이나 데이터 손실 등과 같은 장해를 준다. 한편 EMI는 의료, 전자전(EW: Electronic Warfare) 분야에서 중요하다. 왜냐하면 의도적으로 장해 잡음(interference noise)을 발생시켜 치료나 교란 등에 사용하기 때문이다.